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電子元件 2025/1/3 0:00:00

公司可針對(duì)芯片和元器件等提供可靠性測(cè)試、壽命評(píng)估、失效分析以及自主可控驗(yàn)證等服務(wù)，輔助企業(yè)和用戶(hù)開(kāi)展質(zhì)量驗(yàn)證和供應(yīng)商篩選。

適用產(chǎn)品類(lèi)型

■ 芯片

■ 元器件

檢測(cè)能力

環(huán)境試驗(yàn)

可開(kāi)展各類(lèi)型電子元件的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)、可靠性試驗(yàn)

規(guī)約試驗(yàn)

可開(kāi)展芯片等電子元器件的國(guó)產(chǎn)化驗(yàn)證工作

檢測(cè)能力范圍

環(huán)境試驗(yàn)

GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4208-2017 外殼防護(hù)等級(jí)

GB/T 29309-2012電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則（含隨機(jī)振動(dòng)）

GB/T 2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則

GB/T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法（用于威布爾分布）

規(guī)約試驗(yàn)

ZHKP/FF-008-002-2024/0 電氣設(shè)備元器件供應(yīng)鏈可靠性及元器件可控率等級(jí)判定方法

業(yè)務(wù)咨詢(xún)

聯(lián)系人

陳新美

聯(lián)系電話(huà)

0756-3869069

聯(lián)系郵箱

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